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矽片隱裂檢測模組
發布時間: 2022-11-11 21:15
使用波長為808的激光照射矽片,產生光致發光效應,激發出紅外光,紅外相機拍取圖片,計算機軟件進行圖像處理,檢測矽片內外部肉眼不可見的缺陷。
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